山東閱芯電子科技有限公司
產(chǎn)品簡介
一款多功能的功率半導(dǎo)體器件環(huán)境老化實驗設(shè)備，主要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化
試驗壽命評估，比如Si/SiC/GaN材料IGBT/DIODE/MOSFET/IPM/HEMT/BJT/SCR等器件
的H3TRB/HV-H3TRB試驗
H3TXB
多功能智能環(huán)境老化測試系統(tǒng)-功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗壽命評估
一臺設(shè)備可以完成/H3TRB/HVH3TRB兩種試驗；
支持pA級柵電流測試能力；
支持上下橋切換和上下橋同測H3TRB試驗；
最高試驗電壓6000V；
最多可以一次完成1920顆分立器件的HV-H3TRB；
高可靠性
High reliability
高效率
高精度
High efficiency
High accuracy
源自國際知名功率半導(dǎo)體器件廠家高可靠設(shè)備技術(shù)基因，并經(jīng)過自主優(yōu)化、創(chuàng)新和長期驗證，保證了整個系統(tǒng)的高可靠性。
低回路電感設(shè)計(<25nH);測試方案完全符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。
可進行DPT/SCSOA/RBSOA測試，單次測試即可完成開關(guān)特性和反向恢復(fù)特性測試；全自動上下料，速度可達300UPH(半橋模塊)；多臺ATE可組建測試線；通過SmartLab和SmartData云平臺提升設(shè)備管理和數(shù)據(jù)管理效率。
實時保存測試結(jié)果(CSV)，可選擇同時保存波形數(shù)據(jù);數(shù)據(jù)可上傳至SmartData云平臺，并通過SmartData進行數(shù)據(jù)管理及分析。
符合人體美工學(xué)的外觀設(shè)計，確保使用的舒適性; 簡潔美觀的軟件設(shè)計，操作簡單易學(xué)。
防爆、防觸電、防燙傷、過流保護、過壓保護; 遠程測試。
數(shù)據(jù)管理
使用方便
安全防護
Data management
Safety protection
Easy to use
測試結(jié)果展示
多功能智能環(huán)境老化測試系統(tǒng)-H3TXB
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