山東閱芯電子科技有限公司
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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一款多功能的功率半導(dǎo)體器件環(huán)境老化實(shí)驗(yàn)設(shè)備，主要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化
試驗(yàn)壽命評(píng)估，比如Si/SiC/GaN材料IGBT/DIODE/MOSFET/IPM/HEMT/BJT/SCR等器件
的HTGB/HTRB試驗(yàn)。
HTXB 多功能智能環(huán)境老化測(cè)試系統(tǒng)-功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗(yàn)壽命評(píng)估 一臺(tái)設(shè)備可以完成HTGB/HTRB兩種試驗(yàn)； 支持pA級(jí)柵電流測(cè)試能力； 支持上下橋切換和上下橋同測(cè)HTRB試驗(yàn)； 最高試驗(yàn)電壓6000V； 特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì) 多功能智能環(huán)境老化測(cè)試系統(tǒng)-HTXB
高可靠性 High reliability 高效率 高精度 High efficiency High accuracy 源自國(guó)際知名功率半導(dǎo)體器件廠家高可靠設(shè)備技術(shù)基因，并經(jīng)過(guò)自主優(yōu)化、創(chuàng)新和長(zhǎng)期驗(yàn)證，保證了整個(gè)系統(tǒng)的高可靠性。 低回路電感設(shè)計(jì)(<25nH);測(cè)試方案完全符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。 可進(jìn)行DPT/SCSOA/RBSOA測(cè)試，單次測(cè)試即可完成開(kāi)關(guān)特性和反向恢復(fù)特性測(cè)試；全自動(dòng)上下料，速度可達(dá)300UPH(半橋模塊)；多臺(tái)ATE可組建測(cè)試線；通過(guò)SmartLab和SmartData云平臺(tái)提升設(shè)備管理和數(shù)據(jù)管理效率。 實(shí)時(shí)保存測(cè)試結(jié)果(CSV)，可選擇同時(shí)保存波形數(shù)據(jù);數(shù)據(jù)可上傳至SmartData云平臺(tái)，并通過(guò)SmartData進(jìn)行數(shù)據(jù)管理及分析。 符合人體美工學(xué)的外觀設(shè)計(jì)，確保使用的舒適性; 簡(jiǎn)潔美觀的軟件設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。 防爆、防觸電、防燙傷、過(guò)流保護(hù)、過(guò)壓保護(hù); 遠(yuǎn)程測(cè)試。 數(shù)據(jù)管理 使用方便 安全防護(hù) Data management Safety protection Easy to use 測(cè)試結(jié)果展示 |
