中科院創(chuàng)投、啟迪控股及榮成市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)蒞臨公司 視察指導(dǎo)工作

2018年12月21日，中科院創(chuàng)投、啟迪控股及榮成市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)領(lǐng)導(dǎo)等一行，來到閱芯科技制造基地現(xiàn)場考察指導(dǎo)工作。公司首席技術(shù)官（CTO）張文亮博士陪同，介紹了我司整體以及產(chǎn)品研發(fā)情況，并先后參觀了制造基地產(chǎn)品展示區(qū)、設(shè)備裝配區(qū)，研發(fā)試驗區(qū)等。

張文亮博士對我司兩款產(chǎn)品做了重點介紹：ThermalX 系列產(chǎn)品作為一款全面熱特性分析設(shè)備，能夠幫助客戶快速診斷器件熱失效故障。這款多功能的功率半導(dǎo)體器件熱學(xué)特性測試設(shè)備，主要用于Si/SiC/GaN材料的IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR等各類模塊器件的秒級功率循環(huán)（PCsec）、分鐘級功率循環(huán)（PCmin）、被動式溫度循環(huán)（TC）、熱阻（抗）測試（Rth/Zth）和K曲線測試（Kcurve），可達到極致的測試精度：控溫精度±0.1℃，電壓測試精度±50μV，IGES檢測精度0.1nA。

全自動動態(tài)特性綜合測試系統(tǒng)，具有雙脈沖（開通、關(guān)斷及反向恢復(fù)特性）、SCSOA、UIS等測試能力，主要用于IGBT/MOSFET/Diode等器件DBC級和模塊級測試，適用于量產(chǎn)測試。該產(chǎn)品結(jié)合SmartData數(shù)據(jù)平臺，可實現(xiàn)遠程測試、管理及分析測試數(shù)據(jù)。 參觀人員對我司產(chǎn)品給予了高度的肯定。

近年來，半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)業(yè)持續(xù)受到社會各界資本的關(guān)注，依托于雄厚的技術(shù)實力、產(chǎn)業(yè)資源、運營資本以及地方政府的大力支持，閱芯科技將始終秉持勇于創(chuàng)新、艱苦奮斗、團隊協(xié)作、客戶為本的理念，助力成就“中國芯”！